2025年7月18日,國家知識產(chǎn)權(quán)局頒發(fā)給魅杰半導(dǎo)體1篇集成電路布圖設(shè)計(jì)登記證書:
《一種用于制作類SRAM區(qū)缺陷檢測標(biāo)準(zhǔn)片的集成電路版圖》。